A technique used in electron microscopy where the current induced by an electron beam is measured to study material properties.
एक तकनीक जिसमें इलेक्ट्रॉन किरण द्वारा उत्पन्न धारा को मापकर सामग्री की विशेषताओं का अध्ययन किया जाता है।
English Usage: The research team used electron beam induced current to analyze the semiconductor's defects.
Hindi Usage: शोध टीम ने अर्धचालक की त्रुटियों का विश्लेषण करने के लिए इलेक्ट्रॉन बीम प्रेरित धारा का उपयोग किया।
electronics beam prerit dhara, electron beam prerit dhara, ilektron beam prerith dhara, ilektron bim prerit dhara, elektrone beam prerith dhara, electron beam prerit dhaara, elektran beam prerit dhara, electron bim prerit dhara, elektroron bim prerit dhara, ilektron beam prerit dhara
